TOS7210S(SPEC80766)

PID絕綠試驗儀

產品概述

PID絕緣試驗儀 (TOS7210S) 是為準確有效地對太陽能電池模組的PID (Potential Induced Degradation) 現象進行評估,是以絕緣電阻試驗儀 (TOS7200) 為基礎設計而成。 
附有極性切換功能, 輸出電壓可達2000V, 同時裝載了nA級解析度的電流錶, 因此不僅可以進行PID評估, 還可以用於要求進行高敏感度試驗的絕緣體評估測試。標準安裝了可從外部呼叫的面板記憶體及RS232C介面, 因此也可以靈活對應自動化系統。

什麼是PID現象?
PID現象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓,電池發電量顯著降低的現象。目前認為所施加的電壓越高,越是在高溫、高濕的環境下劣化現象越嚴重。如矽晶體太陽能電池模組的輸出電壓即使只有數十伏,一旦直接連接的片數增加,電位差將變得非常高。一方面,PCS(Power Conditioning System)作為交流電源與系統相連,使接地形態發生變化。輸入端採用浮接(一側電極不能接地線)的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發生高電位差。可確定的是,矽晶體太陽能電池模組中,相對於邊框(接地線)負極電位高的電池容易發生PID現象。(請參照圖1)目前,日本國內以最大600V、歐洲以最大1000V的系統電壓運行太陽能電池模組,但是目前出現了提高最大系統電壓以削減企業用大規模太陽能發電系統的串數、PCS總數,提高發電效率的趨勢。 

圖2類比了矽晶體太陽能電池模組處於高電位差的狀況。邊框為正極電位、模組電路處於負極高電位的狀況。目前認為是由於白鋼化玻璃內的鈉離子向電池側遷移而引起劣化。(薄膜太陽能電池模組也被確認出現PID現象,但是發生劣化的機制與矽晶體太陽能電池模組不同。)現在,各種研究機構正在通過研究、試驗找出PID現象的原因。

產品特性

可任意設定輸出電壓

可將對被測物施加的測試電壓設定在50Vdc-2000Vdc (解析度1V) 範圍內。假設太陽能發電系統的電壓在1000V以上, 可對其進行評估。此外, 在電氣/電子部件/電子設備的絕緣電阻試驗中, 也可對應JIS C 1302: 1994所規定的電壓範圍以外的測試。在50V-1000V範圍內, 輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準。 

極性切換功能

可透過主機面板的開關輕鬆切換輸出極性。PID現象是一種可逆現象, 施加負偏壓電壓可能會恢復。極性切換是一項不需要對被測物實施配線變更的便利功能。此外, 通過RS232C介面可實施由外部控制的切換。 

建立輸出端的浮地

輸出端子與接地電位間為浮地狀態(*1)。此外, 使用屏蔽電纜作為輸出電纜 (TL51-TOS)。這樣就不會測量被測物與大地間的電流, 只測量測試點間的電流, 可確保評估測試的高敏感度和精確性。
*1:設定為正極端子的對地電壓 (±1000Vdc) 設定為負極端子的對地電壓 (+1000Vdc 及 -3000Vdc) 

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